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パワーデバイスアナライザいくら

交渉可能更新03/04
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プロデューサー
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原産地

概要

ドイツの科学技術パワーデバイス分析器B 1506 Aが完全な回路設計ソリューションを提供し、自動車規格級の大電力半導体に対する効率的で安全なテスト検証を実現する。

製品詳細

新エネルギー自動車にとって、自動車はガソリンエンジン、オイルタンクまたは変速機を使用しなくなり、「三電システム」すなわち電池、電機、電気制御システムが代わりに、DC-DCモジュール、電機制御システム、電池管理システム、高圧回路などの部品が新たに追加された。パワー半導体パワーデバイスアナライザB 1506 A電子装置における電気エネルギー変換と回路制御の核心であり、電子回路において電力変換、電力増幅、電力スイッチ、回線保護と整流などの役割を果たす。


挑戦

パワー半導体は高入力インピーダンスと低ターンオン電圧降下の両方の利点を併せ持つ、同時に、そのチップは車規級電力電子チップに属し、大電流、高電圧、高周波の環境下で動作する必要があり、チップの信頼性に対する要求が高い。これはテストに一定の困難をもたらしました:

具体的には次のような点に表れています。

●パワー半導体はマルチポートデバイスであり、多種の計器協同テストが必要である、

●パワー半導体のリーク電流は小さいほど良く、高精度な設備でテストを行う必要がある、

●パワー半導体の電流出力能力が強く、テスト時に1000 A電流を迅速に注入し、電圧降下のサンプリングを完了する必要がある、

●ゲージ級パワー半導体は耐圧が高く、一般的に数千から1万ボルトまで様々である必要があり、測定機器は高圧出力と高圧下のNA漏れ電流試験の能力を備える必要がある、

●車規級電力半導体が強い電流下で動作するため、自己加熱効果が明らかで、深刻な時にデバイスの焼失を引き起こしやすく、μs級電流パルス信号を提供してデバイスの自己加熱効果を減らす必要がある、

●入出力容量はデバイスのスイッチング性能に大きな影響を与え、異なる電圧下でデバイス等価接合容量が異なり、C-Vテストは非常に必要である。


ドイツのテクノロジーの対応です

静的試験に対応するのは、ドイツの科学技術が業界で認められた伝統的な試験方法を用いてI-V、C-Vを結合し、その自動化試験を実現した。

●高電流試験時の配線方法――四線法配線(Remote Sense)

2線法試験は抵抗値が比較的大きく、電流が比較的小さい試験に適用する。一方、被測定抵抗が非常に小さく、試験電流が大きい場合は、4線法接続方式を用いて試験する。高利得デバイス試験では、Gate端の微弱な電圧変化もオン電流の急激な変化を引き起こす。Gate端も正しく安定した制御電圧を得るために4線接続することを推奨します。

●自己熱効果――パルス試験(Pulse Measurement)

IGBTなどの大電力デバイスはその電力特性が非常に大量の熱を発生しやすいため、伝統的な直流テストは温度を急速に上昇させ、深刻な場合はデバイスを損傷させ、デバイスの動作特性に合わないため、パルステストが必要である。電圧/電流バイアス下でのパワーデバイスのstress時間を低減する高速パルス試験(マイクロ秒〜ミリ秒レベル)。

●高圧容量試験——BiasT、Protection Module、CV試験

容量試験がより高い直流電圧要件に遭遇した場合、この高圧の直流信号をbiasTによりCV試験に導入することができる。


黒板を叩いてポイントを引く:

パワーデバイスアナライザB 1506 Aパワー半導体の研究開発、生産、故障分析などの分野でのテスト。

B 1506 Aパワーデバイスアナライザは完全な回路設計ソリューションを提供し、企業、大学及び研究開発単位パワー半導体製品の研究開発を支援し、パワー半導体に対する高効率、安全なテスト検証を実現した。研究開発、生産、失効分析など多くのシーンにテストサービスを提供する。

●3000 V/1500 A高出力試験に使用可能、

●自動化の程度が高く、ユーザーがデータ分析と処理を行うためのテストレポートを生成する、

●強力な試験能力、C/V、I/V、Qg、CV、Rg、Ron、Cissなどのパラメータを含む。

データテーブル特徴化モードはすべてのIVパラメータ(Vth、Vsat、Ron、破壊、漏洩、出力/伝達曲線など)の迅速かつ正確な測定を提供する、ケーブル接続を変更する必要なく、すべての3つの端末デバイスの容量(Ciss、Coss、Crss、CIS、Coes、CRS、Rg)を測定します。

•ゲート電荷(Qg)測定と電力損失計算、

•広い電圧と電流出力範囲(3 kV/1500 A)、

•熱試験能力(-50°Cから+250°C)。